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产品型号:
ZNTEKFX63
产品名称:

雷达物位计ZNTEKFX63

产品报价:
产品特点:
雷达物位计ZNTEKFX63对于蒸汽不敏感
即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下,测量精度也不受到影响
  ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX63的详细资料:

雷达物位计ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX63

产品特点
1.对于蒸汽不敏感
  即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下,测量精度也不受到影响。
2.不受介质特性变化的影响
  被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。
3.粘附:没有问题
  在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。
4.容器内安装物
  如果采用同轴套管式的ZNTEKFX,测量*不受容器内安装物的影响,比如:加热管或支撑物等。不需要特殊调试。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用于不同应用:'
  ●缆式一用于测量液体介质或固体介质,量程可达60米
  ●棒式一用于测量液体介质或固体介质,量程可达6米
  ●同轴套管一用于测量低黏度的液体介质,不受过程条件的影响,量程可达6米

工作原理
      雷达物位计/雷达液位计/雷达料位计/智能导波雷达物位计/智能型脉冲雷达物位计发出的高频微波脉冲沿着探测组件(钢缆或钢棒)传播,遇到被测介质,由于介电常数突变,引起反射,一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测介质的距离成正比,容器中存在两种不同介质,当上面一层的介质介电常数较小,而下面的介质介电常数较大时,高频微脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时,由于其介电常数较小,因而有极少的能量被这一层介面反射,而大部分能量穿透上层介质继续向下传播,遇到两层的介面时,由于下层介质的介电常数较大,因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达物位计是可以测量两种不同介质的介面,其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。

ZNTEKFX63
特   征:抗凝结,抗蒸汽。
应   用:适用于带挥发性物质或蒸汽的环境下的液体测量(如:焦化行业);适应过程条件复杂的环境.
***量程:30M
测量精度:±10mm
过程连接:G1½A/G2A/1½NPT
探测组件材料:不锈钢316L /PTFE
钢缆/棒直径:Φ4mm、Φ6mm/Φ10mm
过程温度:-40…150℃
过程压力:-1.0…40bar
信号输出:两线制 4…20mA/HART

ZNTEKFX63
特  征:同轴式导波天线,获得更小的盲区、更强的回波信号。
应  用:能适应小量程,多蒸汽,小介电常数介质的测量。适应过程条件复杂的环境。
***量程:6M
测量精度:±10mm
过程连接:G1½A/G2A
探测组件材料:不锈钢316L /PTFE
同轴外径:Φ28mm
过程温度:-40…150℃
过程压力:-1.0…40bar

信号输出:两线制 4…20mA/HART

 

SFG-830  SFG-830G  CS164  CG_951  CG-935N  CG-935P  DA-3400  HM8030-6  HM8123 3GHz  HM8135  3GHz  UT2102C  UT2082B  UT2082C  UT2062B  UT2062C  

UT2042B  UT2042C  MSO6052A/54A  DSO6102A/04A

 

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