覆层测厚仪跟涂层测厚仪相比较有什么优势

        涂层测厚仪是新开发的新产品。与以往的涂层测厚仪相比，它具有以下主要优点：
         1、测量速度快：测量速度比其他TT系列快6倍；
         2、精度高：产品经过简单的0校准，精度可达1-2%.
         3、稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；
         4、功能、数据、操作、显示全中文；
        材料表面的保护，通过装饰形成的覆盖层，如涂层、电镀、涂层、粘层、化学生成膜等，在相关国家和国际标准中称为涂层。涂层厚度测量已成为加工业和表面工程质量检测的重要组成部分，是产品达到优良质量标准的bi备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目对包层厚度有明确要求。
        涂层厚度的测量方法主要有：楔形切割法、光截取法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁测量法和涡流测量法等。其中前五种方法为破坏性检测，测量方法繁琐，速度较慢，大多适用于抽样检验。
         X射线和β射线法是非接触、无损测量，但装置复杂且昂贵，测量范围小。由于存在放射源，用户必须遵守辐射防护规定。 X射线法可以测量超薄镀层、双层镀层和合金镀层。 β射线法适用于测量原子序数大于3的涂层和基材。电容法仅用于测量薄导体绝缘涂层的厚度。